兆讯恒达申请面向可测试性设计的SoC缓存测试方法专利，能够有效地检测SoC缓存中可能存在的问题

　　国家知识产权局信息显示，兆讯恒达科技股份有限公司申请一项名为“面向可测试性设计的SoC缓存测试方法”的专利，公开号CN 119375664 A，申请日期为2024年9月。

　　 专利摘要显示，本发明公开了一种面向可测试性设计的SoC缓存测试方法。该方法通过隔离L1Cache并配置指令区域为可缓存，以减少对L2Cache的不必要访问，同时定义预设大小的测试空间，确保覆盖所有潜在缓存区域。在测试开始前，保持L2Cache关闭，测试开始时启用L2Cache，并通过配置L2Cache控制器，确保测试指令在L2Cache中被固定。采用MBIST测试算法对测试空间进行全面测试，以检测L2Cache的数据完整性和功能性。通过上述措施，本发明能够有效地检测SoC缓存中可能存在的问题，提升芯片的成品率和降低生产成本。

　　 天眼查资料显示，兆讯恒达科技股份有限公司，成立于2011年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本5980万人民币，实缴资本5580万人民币。通过天眼查大数据分析，兆讯恒达科技股份有限公司共对外投资了3家企业，知识产权方面有商标信息10条，专利信息83条，此外企业还拥有行政许可1个。