长鑫科技申请熔丝单元检测方法与测试设备专利，提高存储芯片的可靠性

　　国家知识产权局信息显示，长鑫科技集团股份有限公司申请一项名为“熔丝单元检测方法与测试设备”的专利，公开号CN 119380796 A，申请日期为2023年7月。

　　 专利摘要显示，本公开提供一种熔丝单元检测方法与测试设备。熔丝单元检测方法包括：在第一温度下读取熔丝单元阵列，获取第一数据，所述熔丝单元阵列包括多个熔丝单元；在第二温度下读取所述熔丝单元阵列，获取第二数据，所述第二温度低于所述第一温度；在所述第二数据不等于所述第一数据时，根据所述第一数据和所述第二数据的比较结果确定待处理熔丝单元；在所述第二温度下对所述待处理熔丝单元进行修复。本公开实施例可以提高存储芯片的可靠性。

　　 天眼查资料显示，长鑫科技集团股份有限公司，成立于2016年，位于合肥市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本5777094.224万人民币，实缴资本5363300万人民币。通过天眼查大数据分析，长鑫科技集团股份有限公司共对外投资了17家企业，参与招投标项目1088次，知识产权方面有商标信息207条，专利信息227条，此外企业还拥有行政许可28个。