昇维旭申请半导体结构及其形成方法专利,提高半导体结构的工作性能

发布时间:2025-02-23 00:07 已有: 人阅读

  国家知识产权局信息显示,深圳市昇维旭技术有限公司申请一项名为“半导体结构及其形成方法”的专利,公开号CN 119403185 A,申请日期为2024年9月。

   专利摘要显示,一种半导体结构及其形成方法,结构包括:衬底;栅极结构,位于衬底上;沟道柱,位于衬底上、且沿纵向贯穿栅极结构;侧墙,沿纵向延伸位于沟道柱侧壁与栅极结构之间;补偿层,填充于侧墙底部位置处,沟道柱与栅极结构之间的空隙中。本发明有利于提高半导体结构的工作性能。

   天眼查资料显示,深圳市昇维旭技术有限公司,成立于2022年,位于深圳市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本500000万人民币,实缴资本500000万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市昇维旭技术有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目11次,知识产权方面有商标信息47条,专利信息83条,此外企业还拥有行政许可13个。

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