浙江锋华创芯申请移位存储器并行测试专利，保证测试结果准确性和可靠性

　　国家知识产权局信息显示，浙江锋华创芯微电子有限公司申请一项名为“一种移位存储器并行测试方法及系统”的专利，公开号 CN 119380797 A，申请日期为2024年10月。

　　 专利摘要显示，本发明涉及一种移位存储器并行测试方法及系统。本发明包括接收来自测试机的第一测试数据，并生成第一输出数据，当第一输出数据与第一测试数据的电位一致时，确定存储功能正常；接收来自测试机的第二测试数据，并生成第二输出数据，当第二输出数据与预设的输出电位一致时，确定移位功能正常；接收来自测试机的第一测试信号，并获移位存储器的输出端口驱动电压，当输出端口驱动电压在预定电压范围内时，确定输出端驱动电压功能正常；接收来自测试机的第二测试信号，并获取移位存储器的输出端口电流，当输出端口电流在预定电流范围内时确定输出端高阻态电流功能正常本发明保证了测试结果的准确性和可靠性，并且降低测试成本。

　　 天眼查资料显示，浙江锋华创芯微电子有限公司，成立于2018年，位于金华市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2000万人民币，实缴资本926.17万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江锋华创芯微电子有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目5次，知识产权方面有商标信息6条，专利信息24条。